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IC 逆向工程分析

  
 

  • IC拍照透過層次去除技術(Delayers)顯現各層電路,並結合光學顯微鏡或電子顯微鏡,達成自動連拍拼接, 以及縱向連結所做的拍照工程可針對成本分析, 產品競爭力、市場調查、與專利侵權作深入的研究 可以清楚呈現產品材料製程組成、結構、層次分析、設計準則, 提供完整的分析服務。

  • 製程分析
    (1)產品競爭力分析 Product Competitive Analysis
    (2)成本估算 Cost Evaluation
    (3)專利分析 Patent Analysis


     
  • 電路逆向還原工程整顆IC透過層次去除技術(Delayers)顯現各層電路佈局,將內部結構、尺寸、製程技術與各層線路組成等步驟解析,將線路佈局還原。


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